Testmethode FKT - Automatischer Funktionstest

Bei der automatische Funktionsprüfung werden die Leiterplatten über ihre betriebsmäßigen Schnittstellen (Steckverbindungen, Teststecker) getestet. Das Prüfprogramm ist so zu gestalten, dass die definierten Funktionen geprüft werden.

Als Prüfmittel stehen Prüfsysteme zur Verfügung, die umfangreiche SW-Unterstützung bieten und im Bereich der HW Treiber, Sensoren und Synchronisiereinrichtungen haben. Die Prüfungen können quasi statisch als auch dynamisch mit Realtime-Clock realisiert werden. Ist dies der Fall, besteht auch die Möglichkeit, Selbsttests mit in das Prüfprogramm einzubeziehen. Wichtig ist auch, dass eine vorgegebene Fehlerabdeckung erreicht wird, um die geplante Lieferqualität zu erreichen.

Eine andere Variante des automatischen Funktionstest ist der Einsatz einer automatischen Diagnose, unter Einsatz von Fehlerkatalogen. Diese Fehlerkataloge können sowohl wissensbasiert bzw. manuell angelegt werden, als auch durch Fehlersimulation automatisch generiert werden. Zusätzlich werden die Testvektoren für alle Knoten generiert bzw. können eingelernt werden, um mit einer rechnergeführten Prüfspitze Fehler einzukreisen.

Die zuletzt beschriebene Methode erfordert eine aufwendige Infrastruktur und Know-how sowie leistungsfähige Simulatoren und beschränken sich aktuell auf digitale Schaltungsteile. Deshalb ist dieses Verfahren im Produktionstest nicht üblich. Typische Anwendungen sind Reparaturen an komplexen Leiterplatten, die nicht kontaktierbar bzw. lackiert sind, z.B. im Luftfahrt-, Raumfahrt- sowie im Militär-Bereich. Hier wird auch die vom Simulator errechnete Fehlerabdeckung als QS-Merkmal häufig gefordert.

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