Testmethode AOI - Automatische Optische Inspektion
Die Automatisch Optische Inspektion von Elektronischen Baugruppen entlastet die Sichtkontrolle und führt zu reproduzierbaren Prüfkriterien und damit in der Serienfertigung häufig zu besserer Qualität, bei gleichzeitig reduzierten Kosten.Mit Automatischen Optischen Inspektionssystemen kann ein Grossteil typischer Fertigungsfehler wirtschaftlich gefunden und entfehlert werden.
- Bestückung und Lage der Bauteile
- Polarität von Bauteilen ( bei sichtbaren Markierungen )
- Lötstellenkontrolle ( soweit sichtbar )
- Aufgeschwommene Bauteile durch Höhenmessung mit Laser
In der Elektronik-Baugruppeninspektion stellen jedoch die extremen Helligkeitsschwankungen und Unterschiede, hervorgerufen z.B. durch Reflexionen an spiegelnden bzw. teilweise auch matt glänzenden Lötstellen, und den chargenbedingten Helligkeitsschwankungen der Bauteile und Leiterplatten, eine große Schwierigkeit für eine gesicherte Bildaufnahme und Bildauswertung dar.
Die Prüfschärfe und damit der Fehlerschlupf ist bei den meisten Systemen einstellbar. Eine hohe Prüfschärfe hat zur Folge, dass auch Grenzfälle bereits als Fehler angezeigt werden, was dann zu sogenannten Pseudofehlern führt. Da in der Regel ein Schlupf nicht toleriert wird, nimmt man einen gewissen Anteil an Pseudofehlern in Kauf.